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Toshiba扩展电子设备温升检测简单解决方案Thermoflagger系列产品

发布时间:2023-09-16
日本川崎--(美国商业资讯)-- Toshiba Electronic Devices & Storage Corporation (“Toshiba”) 扩大了“TCTH0xxxE系列”的产品Thermoflagger™过温检测IC,该器件可用于具有正温度系数 (PTC) 热敏电阻的简单电路,以检测电子设备的温升。六种新产品今天开始发货。

本新闻稿包含多媒体。此处查看新闻稿全文: https://www.businesswire.com/news/home/20230913720200/zh-CN/

为了使电子设备按规定运行,半导体和其他电子元件必须在设计参数内运行。内部温度是关键参数,特别是当该参数高于设计假设温度时;这可能是重大的安全和可靠性问题,并且需要过热监控解决方案来检测任何温升。

在使用PTC热敏电阻(其电阻值随温度变化)的简单电路中配置Thermoflagger™过温检测IC后,可检测温度升高。这些IC还可以检测放置在热源附近的PTC热敏电阻的电阻变化,并在温度过高时输出FLAG信号。例如,当Thermoflagger™检测到异常发热并向MCU发送FLAG时,MCU将关闭设备或更改产生热量的设备或半导体的操作。串联PTC热敏电阻可实现多点过温检测。

这六款新产品是TCTH011AETCTH012AETCTH021AETCTH022AETCTH011BETCTH012BE。这些新产品加上已发布的TCTH021BETCTH022BE使TCTH0xxxE 系列产品阵容达到八种。新产品支持两种类型的PTC输出电流[1],扩大了PTC热敏电阻的选择范围。可以选择推挽或开漏FLAG信号输出类型[2],也可以选择使用或不使用FLAG信号锁存功能[3]。扩大产品选择范围可实现低电流消耗的灵活电路设计。

新产品采用小型、符合行业标准的SOT-553封装(Toshiba封装名称:ESV),确保TCTH0xxxE系列能为成套电子设备轻松配置过温检测功能,并有助于减小尺寸和功耗消耗。

除了已经发布的参考设计: Thermoflagger™过温检测IC应用电路(TCTH021BE/开漏版本)之外,Toshiba今天还在公司网站上提供了新的参考设计:Thermoflagger™过温检测IC应用电路(TCTH021AE /推挽版本)

Toshiba使用Murata Manufacturing Co., Ltd. 提供的有关PTC热敏电阻的技术信息来实现过温检测解决方案。 Murata建议将Thermoflagger™与PTC热敏电阻一起使用。
Murata推荐IC一览
Murata PTC热敏电阻

Toshiba将继续通过各种封装和改进的设备特性来扩展其产品线,为设计灵活性和碳中和做出贡献。

注意:
[1] PTCO输出电流:过温检测IC向PTC热敏电阻提供的恒定电流。
[2] 过温检测IC检测到错误时,会输出FLAG信号。推挽式由两个垂直堆叠的MOSFET组成。输出电流沿任一方向流入和流出。漏极开路型由1个MOSFET构成。输出电流仅沿一个方向流动。
[3] FLAG信号锁存功能在过温检测IC检测到错误后保持FLAG信号,即使检测到一次错误也是如此。过温检测IC不自行恢复,而是通过从MCU等向RESET引脚输入信号来恢复。

应用

· 移动设备(笔记本电脑等)

· 家用电器

· 工业设备等

特性

· 与PTC[1]热敏电阻组合的简单配置

· 通过串联PTC[1]热敏电阻,可以进行多点过温监控。

· 电流消耗低:
IDD=1.8μA (典型值)(TCTH011AE、TCTH012AE、TCTH011BE、TCTH012BE)
IDD=11.3μA(典型值)(TCTH021AE、TCTH022AE)

· 小尺寸标准封装:SOT-553 (ESV)

· 扩展PTC[1]具有两种PTCO输出电流的热敏电阻选择范围:
IPTCO=1.00μA(典型值)(TCTH011AE、TCTH012AE、TCTH011BE、TCTH012BE)
IPTCO=10.0μA (典型值)(TCTH021AE、TCTH022AE)

· 高PTCO输出电流精度:±8%

· FLAG信号输出可选择推挽式和开漏式 (PTCGOOD)

· 可选择FLAG信号锁存功能

主要规格

(除非另有说明,Tj=25°C)

部件号

封装

工作范围

电气特性

FLAG

信号

输出

(PTCGOOD)

FLAG

信号

锁存

功能

(检测

异常

状态

)

样品

检查与

可供性

名称

尺寸

(mm)

电源

电压

VDD

(V)

工作

温度

Topr

(°C)

PTCO

输出

电流

IPTCO

(μA)

检测

电压

VDET

(V)

电流

消耗

IDD

(μA)

UVLO

电压

VUVLO

(V)

典型值

典型值

典型值

典型值

典型值

TCTH011AE

SOT-553

(ESV)

1.6×1.6,

t=0.55

1.7 to

5.5

-40 to 125

1.00

0.50

1.8

1.5

推挽

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TCTH012AE

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TCTH021AE

10.0

11.3

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TCTH022AE

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TCTH011BE

1.00

1.8

开漏

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TCTH012BE

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TCTH021BE[4]

10.0

11.3

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TCTH022BE[4]

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[4] 之前发布的产品

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* Thermoflagger™是Toshiba Electronic Devices & Storage Corporation的商标。
* 其他公司名称、产品名称和服务名称是其各自公司的商标。
* 本文档中的信息(包括产品价格和规格、服务内容和联系信息)为发布之日的最新信息,如有更改,恕不另行通知。

关于Toshiba Electronic Devices & Storage Corporation

Toshiba Electronic Devices & Storage Corporation是先进半导体和存储解决方案的领先供应商,凭借半个多世纪的经验和创新,为客户和业务合作伙伴提供卓越的分立半导体、系统LSI和HDD产品。
公司在全球的21,500名员工致力于最大限度提高产品价值,并促进与客户的密切合作,共同创造价值和开拓新市场。Toshiba Electronic Devices & Storage Corporation的年销售额接近8000亿日元(61亿美元),期待为世界各地的人们建设更美好的未来并做出贡献。
要了解更多信息,请访问https://toshiba.semicon-storage.com/ap-en/top.html

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Toshiba:检测电子设备温升的简单解决方案Thermoflagger(TM)(图示:美国商业资讯)

Toshiba:Thermoflagger(TM) 过温检测IC应用电路(TCTH021AE/推挽版本)参考设计。 (图示:美国商业资讯)

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